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Hot Disk 熱傳導係數儀 TPS2500

型號:Hot Disk TPS2500
中文名稱:熱傳導係數儀
英文名稱:Thermal Conductivity Measurements
廠牌:Hot Disk AB

產品特色

Hot Disk 熱傳導係數儀,是使用ISO 22007-2 Transient plane heat source method(TPS) 瞬變平面熱源法測試,能涵蓋大多數的材料需求,TPS 法不僅適用於量測各類均質材料及異方向性同軸結構材料,從低熱導泡材料材到高熱導金屬材料也都可進行測試,可同步量測出材料的熱傳導值(Thermal Conductivity)、熱擴散值、熱容、可依照應用分為許多測試模組,可分析塊體、薄膜、片狀高熱導及異方向性材料,亦可分析不同型態樣品:液狀、膏狀、膠狀、粉狀等樣品熱傳導係數


目前,Hot Disk 的TPS 測試方式中,已能針對多種一般無法測試熱傳導的材料進行測試(例如:奈米水溶液、高分子薄膜&hellip等特殊材料),並且擁有業界唯一可同時測得X、Y 軸方向及Z 軸方向的異方向性熱傳導測試專利設計(PCT/SE00100868、Japan 2928303、USA 5044767、UK406282)。目前已有許多國內外大廠、研究機構、學術單位及產業界用來測量材料熱傳導特性,藉此方法可實際測出材料熱傳導特性,最終獲得最佳化的材料設計與開發方向。

規格
型號 TPS 2500S
量測項目 可同時測得熱傳導係數(Thermal Conductivity, W/mK),熱擴散(Thermal Diffusivity, mm2/s)與熱容(Specific Heat, J/m3℃),並可由比熱量測模式求得比熱(Specific Heat Capacity, /kg℃)。
量測範圍 0.005 W/mK~1800W/mK
模式 標準模式Standard Method
選配模式 *薄膜模式(Thin Film Method)
*高熱傳片狀模式(Slab Method)
*異方向性模式(Anisotorpic Method)
*比熱模式(Cp Method)
量測溫度 -235℃~1000℃
精密度 5%以內
測試時間 1~2分鐘內即可完成測試

最小樣品尺寸

標準:長5 寬5cm 厚度3mm
薄膜:長6 寬6cm 厚度0.02-0.05mm
高熱導片狀:長6 寬6cm 厚度1mm

樣品種類 固體,液體,粉末,膏狀,膠狀,薄膜樣品
儀器特色 *採非破壞性樣品測試方法
*不需輸入比熱(Cp)及密度(D)即可量測熱導係數
*不需裁減樣品即可依樣品大小選取適當的感測器
*可擴充性:可擴充由軟體控溫,控制高溫爐體及低溫系統的測試溫度及取點

產品DM