型號:on line Fluorescent X-ray Analyzer
中文名稱:材料元素成分分析線上即時監控系統
英文名稱:on line Fluorescent X-ray Analyzer (XRF)

設計 | 線上型X-ray螢光射線XRF |
管電壓 | 4W@50kV 根據需求可多段設定 |
管電流 |
200μA 可根據樣品需求進行最佳化的自動輸出強度調整 |
分析範圍 | 元素分析範圍可從鋁(Al13) ~鈾(U92) |
應用軟體 |
Match法 – 秘密材料比對金屬或非金屬都可以 FP法 – 金屬型號比對 FPwith Standard – 適合用在金屬應用 差異係數小 Calibration – 檢量線法適合液體監控 |
應用 |
合金材料檢測-合金QA/QC, 合金Pass/Fail, 合金PMI 貴金屬溶液監控 金屬鍍膜厚度即時監控 電鍍液成分監控 蝕刻液主成分及剝離金屬濃度監控 |
客製化 | 可依客戶需求新增檢測元素 |
準直器 | 3.5, 3.0, 2.5, 2.0, 1.5, mm |
偵測器 |
電冷式矽半導體偵測器Si-Pin (Si semiconductor detector) 矽飄移檢測器SDD (Silicon Drift Detector ) |
濾波器 |
3種濾波器適合各種應用 std_1, std_2, std_3 |
校正功能 |
自動設定定時確較 提醒式校正功能 |
操作介面 | Windows XP 系統 |
安全性 |
儀器艙門感測器-第一層保護避免近距離接觸微量輻射線 液體漏逸檢測器-液體流動有壓力避免探頭液體滴漏 超低輻射符合台灣及國際輻射線規範並取得台灣X-ray 製造相關証造 |
服務 | 20年的XRF研發經驗, 台灣研發在地服務, 對於客製化需求的條件設定反應更快速 |
電需求 | 110V 10A |
重量 | 4.5Kg |
探頭尺寸 | L240mm x W 160mm x H 160mm |
Xsmart量測原理採用EDXRF非破壞性材料分析檢測技術,以X-Ray激發待測樣品中材料所含元素的特徵螢光訊號,將所有檢出之能量訊號經過訊號處理技術轉換為能量與能量強度對應關係的能量譜,再利用能量譜解析技術分離出材料中各元素的特徵能量及其強度,特徵能量資訊對材料作定性分析,定義出材料本身所含有哪些元素,以特徵能量強度來計算出各元素所含濃度比例達成定量分析。
為達成可以架構於生產線上快速即時對大批量或流動性液體待測物進行材料分析及監控之目的,Xsmart除了具備EDXRF材料分析檢測技術的基本架構外,還具有可以鎖定關鍵能量分析區間的能量譜解析技術,快速取得監測元素的特徵能量及強度訊息進而達成元素判定及計算出含量多寡,系統利用PC(電腦)或PLC(可程式化邏輯控制器)透過網路通訊介面或串列通訊介面與生產流程的管控系統做整合,提供系統啟動/停機、切換檢測條件、檢測值超限告警、緊急情況停機及資料輸出或判定結果輸出等資訊傳遞及控制,Xsmart提供高度彈性化的軟、硬體整合環境,可以滿足各種工業上線上即時材料元素分析及量測的應用。