產品介紹
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桌上型XRF元素分析儀 EA1000VX

型號:XRF EA1000VX
中文名稱:X射線螢光分析儀
英文名稱:X-ray Fluorescent Analyzer
廠牌:Hitachi High Tech

產品特色

X射線螢光分析儀(X-ray fluorescence,XRF)是把X射線照射在物質上而產生的次级X射線(X射線螢光)通過次级X射線分析的方法,是一項元素定性和定量的分析技術,元素量測範圍為從元素11號(Na)~元素92號(U),此測試方式具有快速、非接觸、非破壞性及多元素分析等特點,無須樣品前處理,無須液態氮充填等運行成本產生,可快速分析檢測樣本,具有多種類型XRF可廣泛應用於各個領之域中。
 

產品應用

產業應用:

環境限制物質RoHS法規、無鹵法規、ELV、歐洲玩具標準EN71-3、加州65法令、美國CPSIA、合金型號判定、金屬/貴金屬分析、環境分析、礦物分析、油品分析等。
 

膜厚測定:

XRF亦可利用產生特徵螢光X射線,通過檢測器得知螢光的強度來計算金屬鍍層的厚度,量測金屬鍍層厚度。
具有非破壞,快速簡便的優點。檢測的範圍大約從0.01μm到100μm,根據元素不同會有所差異。
 
型號 EA1000VX EA1000AIII
測定元素 原子序編號 13 (Al) ~ 92 (U)
樣品形態 固體,粉末,液體
X光管 小型空冷式X射線管球(Rh靶)
管電壓: 15kV, 50kV
管電流: 1mA (10~1000 uA)
檢測器 Vortex高計數率Si半導體檢測器
(無需液態氮)
Si semiconductor detector (Liquid nitrogen not required)
準直器 1mm, 3mm, 5mm (自動切換)
樣品觀察 彩色CCD攝像頭
濾波器 5種模式自動切換( 含OFF 濾波器)
樣品室 370(W)*320(D)*120(H)mm
X-ray Station 筆記電腦或桌上型電腦
(OS; MS-windows WIN7)
定性分析功能 能譜測定,自動辨別,KLM標記表示,圖譜比對,差異表示
定量分析功能 塊體基本參數法,塊體標準檢量線法
報告製作 Microsoft Excel、 Microsoft Word
設置尺寸 1500(W)*1000(D) mm
(不含印表機)
重量 約60kg
使用電源 AC100 ~ 240V , ±10%, 單相三線
測量時間(Cd,Pb,Hg,Br,Cr in plastics) Approximately 30 sec. Approximately 100 sec.
選購配件
  • Film FP (薄膜FP軟體)
  • Film CAL (薄膜標準曲線軟體)
  • Spectrum Matching Software ( Material Discrimination)
  • Hazardous Substance Measurement Software Ver.1
  • Sample changer(自動取樣器,最多可放12樣品)
  • Standard Reference Samples for various environmental regulations Signal tower

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