產品特色

X射線螢光分析儀(X-ray fluorescence,XRF)是一項元素定性和定量的分析技術，具有快速、非接觸、非破壞性及多元素分析等特點，無須樣品前處理，無須液態氮充填等運行成本產生，多種類型XRF可廣泛應用於各個領之域中。
 

主要應用

XRF 可應用於: 環境限制物質RoHS法規、無鹵法規、ELV、歐洲玩具標準EN71-3、加州65法令、美國CPSIA、合金型號判定、金屬/貴金屬分析、膜厚測定、環境分析、礦物分析、油品分析等。
 

EA1200VX 規格
測定元素	原子序編號11(Na))～92(U)
樣品形態	固體，粉末，液體
X光管	小型空冷式X射線管球(Rh靶) 管電壓：15kV 、30kV、40kV、50kV 管電流： 1mA
檢測器	Vortex高計數率Si半導體檢測器(無需液態氮)
準直器	Φ1mm、Φ8mm(自動切換)
樣品觀察	彩色CCD摄像头
濾波器	5种模式自动切换
樣品室	430(W) ×320(D) ×209(H)mm
重量	90kg
定性分析功能	能譜測定，自動辨別，KLM標記表示，圖譜比對，差異表示
定量分析功能	FP塊體基本參數法，塊體標準檢量線法
報告製作	Microsoft Excel、 Microsoft Word
適用環境	温度：10℃～35℃(±)5℃ / 濕度：35%～80%
使用電源	AC100~120V、200~240V±10%、10A
選配	有害物質判定軟體 能譜匹配軟體(材料判定) 薄膜標準曲線軟體 樣品進樣器 準直器: 3mmΦ 真空泵(輕元素分析用) 標準品 (金屬電鍍薄膜厚度標樣, RoHS標樣)

 

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